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		<citationkey>SilvaBern:2020:DeEsBr</citationkey>
		<title>Desenvolvimento de espelhos de Bragg utilizando silício poroso</title>
		<format>On-line</format>
		<year>2020</year>
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		<author>Silva, Ana Carolina Fernandes da,</author>
		<author>Berni, Luiz Angelo,</author>
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		<resumeid>8JMKD3MGP5W/3C9JHMN</resumeid>
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		<group>LABAS-COCTE-INPE-MCTIC-GOV-BR</group>
		<affiliation>Universidade Federal de São Paulo (UNIFESP)</affiliation>
		<affiliation>Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)</affiliation>
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		<electronicmailaddress>luiz.berni@inpe.br</electronicmailaddress>
		<editor>Valéria,</editor>
		<conferencename>Seminário de Iniciação Científica e Iniciação em Desenvolvimento</conferencename>
		<conferencelocation>On line</conferencelocation>
		<date>20 set a 1 out</date>
		<publisheraddress>São José dos Campos</publisheraddress>
		<secondarytype>PRE CN</secondarytype>
		<organization>Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)</organization>
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		<contenttype>External Contribution</contenttype>
		<abstract>Este trabalho, tem como objetivo o estudo das propriedades ópticas e estruturais do silício poroso, levando em consideração diversas condições de ataque eletroquímico. Foram realizados estudos de degradação dos espelhos de Bragg armazenados em diferentes meios (ar, vácuo e álcool) e, também, estudo da viabilidade de se utilizar o silício poroso como absorvedor de radiação solar. Além do silício tipo P forma realizados testes iniciais com silício do tipo N para fabricar os espelhos e absorvedores. No estudo da degradação dos espelhos de Bragg através de medidas semanais com o SLIM (Espectroscopia por Infiltração de Líquidos), notou-se que todos as amostras estão próximas a uma estabilização após 650 dias de acompanhamento. A amostra em vácuo foi a que apresentou menor degradação e mais rápida estabilização da curva. Esta estabilização da amostra em vácuo foi verificada após 60 dias. Vale relembrar que as amostras foram fabricadas a partir da mesma lâmina de silício cristalino do tipo P. Como absorvedor de radiação solar, foram fabricadas várias amostras de silício poroso multicamadas a partir de lâminas de silício cristalino do tipo P (100) de baixa resistividade (0,01 a 0,02 &#937;.cm) em solução de ácido fluorídrico (HF), sendo que para o ataque eletroquímico utilizou-se várias densidades de corrente e tempos diferentes. Para essas amostras, foram variados dois parâmetros: espessura (2100 nm à 42000 nm) e número de camadas (1 à 21). Os resultados mostraram que a refletância do absorvedor de apenas uma camada ficou entre 15% e 45% dependendo da espessura da camada e da região do espectro, enquanto os absorvedores com multicamadas apresentaram resultados mais satisfatórios, atingindo uma refletância mínima de 5%. Devido ao longo período de ataque (t > 1000 s) e alta porosidade (83%) algumas amostras apresentaram descolamento da camada superficial Na fabricação de silício poroso com lâminas no tipo N, verificou-se através da microscopia eletrônica de varredura (FEG) a formação de poucos poros o que dificultou a caracterização via SLIM.</abstract>
		<area>FISMAT</area>
		<language>pt</language>
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		<notes>Bolsa PIBIC/INPE/CNPq</notes>
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