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Metadata

%0 Conference Proceedings
%4 sid.inpe.br/mtc-m21c/2020/11.05.17.35
%2 sid.inpe.br/mtc-m21c/2020/11.05.17.35.52
%F self-archiving-INPE-MCTIC-GOV-BR
%T Desenvolvimento de espelhos de Bragg utilizando silício poroso
%D 2020
%A Silva, Ana Carolina Fernandes da,
%A Berni, Luiz Angelo,
%@affiliation Universidade Federal de São Paulo (UNIFESP)
%@affiliation Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
%@electronicmailaddress fanasilva2@gmail.com
%@electronicmailaddress luiz.berni@inpe.br
%E Valéria,
%B Seminário de Iniciação Científica e Iniciação em Desenvolvimento
%C On line
%8 20 set a 1 out
%J São José dos Campos
%1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
%X Este trabalho, tem como objetivo o estudo das propriedades ópticas e estruturais do silício poroso, levando em consideração diversas condições de ataque eletroquímico. Foram realizados estudos de degradação dos espelhos de Bragg armazenados em diferentes meios (ar, vácuo e álcool) e, também, estudo da viabilidade de se utilizar o silício poroso como absorvedor de radiação solar. Além do silício tipo P forma realizados testes iniciais com silício do tipo N para fabricar os espelhos e absorvedores. No estudo da degradação dos espelhos de Bragg através de medidas semanais com o SLIM (Espectroscopia por Infiltração de Líquidos), notou-se que todos as amostras estão próximas a uma estabilização após 650 dias de acompanhamento. A amostra em vácuo foi a que apresentou menor degradação e mais rápida estabilização da curva. Esta estabilização da amostra em vácuo foi verificada após 60 dias. Vale relembrar que as amostras foram fabricadas a partir da mesma lâmina de silício cristalino do tipo P. Como absorvedor de radiação solar, foram fabricadas várias amostras de silício poroso multicamadas a partir de lâminas de silício cristalino do tipo P (100) de baixa resistividade (0,01 a 0,02 Ω.cm) em solução de ácido fluorídrico (HF), sendo que para o ataque eletroquímico utilizou-se várias densidades de corrente e tempos diferentes. Para essas amostras, foram variados dois parâmetros: espessura (2100 nm à 42000 nm) e número de camadas (1 à 21). Os resultados mostraram que a refletância do absorvedor de apenas uma camada ficou entre 15% e 45% dependendo da espessura da camada e da região do espectro, enquanto os absorvedores com multicamadas apresentaram resultados mais satisfatórios, atingindo uma refletância mínima de 5%. Devido ao longo período de ataque (t > 1000 s) e alta porosidade (83%) algumas amostras apresentaram descolamento da camada superficial Na fabricação de silício poroso com lâminas no tipo N, verificou-se através da microscopia eletrônica de varredura (FEG) a formação de poucos poros o que dificultou a caracterização via SLIM.
%@language pt
%3 Resumo_PIBIC-Ana Carolina Fernandes da Silva.pdf
%O Bolsa PIBIC/INPE/CNPq


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