Fechar
Metadados


Como Referenciar este Documento no Padrão INPE (Formato BibINPE)

MORELHÃO, S. L.; NETZKE, S.; FORNARI, C. I.; RAPPL, P. H. O.; ABRAMOF, E. Advanced X-ray diffraction methods for van der Waals epitaxic films. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS (SBPMAT), 17., , Natal, RN. (campo ausente ou vazio: 'booktitle') 2018.

Como Fazer a Citação no Texto (por autor/ano)

... como proposto por Morelhão et al. (2018).
... pode ser encontrada na literatura (MORELHÃO et al., 2018).



Fechar