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A expressão de busca foi <Correlation between Raman spectra measurements and gradient pattern analysis of annealed porous silicon implanted with nitrogen by plasma immersion íon implantation>.
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BelotoRoLeKuFaUe:2003:CoRaSp
Artigo em Evento    -m-
Beloto, A. F., et al. :2003:
Correlation between Raman spectra measurements and gradient pattern analysis of annealed porous silicon implanted with nitrogen by plasma immersion íon implantation
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