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Data e hora local de busca: 01/12/2020 03:53.
Nanoscale characterization of bismuth telluride epitaxial layers by advanced X-ray analysis
Morelhão, S. L.; Fornari, C. I.; Rappl, P. H. O.; Abramof, E.

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Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films
Morelhão, S. L.; Kycia, S.; Netzke, S.; Fornari, C. I.; Rappl, P. H. O.; Abramof, E.

Artigo em Revista Científica - Qualis: 10.0 - 2018 - Como citar? - BibTeX - acessar - Atualizar - Similaridade: 0.30
 
  

Hybrid reflections from multiple x-ray scattering in epitaxial bismuth telluride topological insulator films
Morelhão, S. L.; Kycia, S.; Netzke, S.; Fornari, C. I.; Rappl, P. H. O.; Abramof, E.

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Magnetic resonant x-ray diffraction study of europium telluride
Díaz, B.; Granado, E.; Abramof, E.; Rappl, P. H. O.; Chitta, V. A.; Henriques, A. B.

Artigo em Revista Científica - sem Qualis - 2008 - Como citar? - BibTeX - acessar - Atualizar - Similaridade: 0.26