Resultado da Pesquisa
A expressão de busca foi <related:sid.inpe.br/mtc-m21c/2018/09.17.11.33.15-0:en:title:2:diffraction advanced epitaxic methods:advanced x ray diffraction methods van der waals epitaxic films:>.
1 referência encontrada buscando em 14 dentre 15 sites.
Eventualmente nem todas as referências esperadas puderam ser exibidas porque o acesso a pelo menos um site falhou.
Data e hora local de busca: 23/11/2020 17:51.
Advanced X-ray diffraction methods for van der Waals epitaxic films
Morelhão, S. L.; Netzke, S.; Fornari, C. I.; Rappl, P. H. O.; Abramof, E.

Artigo em Evento - sem Qualis - 2018 - Como citar? - BibTeX - acessar - Atualizar - Similaridade: 1.00