%0 Conference Proceedings
%4 sid.inpe.br/mtc-m16d/2018/10.11.17.31
%2 sid.inpe.br/mtc-m16d/2018/10.11.17.31.50
%@issn 2177-3114
%T Teste em componente crítico de uso espacial: ensaio de dose ionizante total, (TID - Total Ionizing Dose) em transistores 2N2222A
%D 2018
%A Junqueira, Bruno Carneiro,
%A Manea, Silvio,
%A Vaz, R. G.,
%A Gonçalez, O. L.,
%@affiliation Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
%@affiliation Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
%@electronicmailaddress bruno.junqueira@inpe.br
%@electronicmailaddress silvio.manea@inpe.br
%E Santos, Walter Abrahão dos,
%E Rodrigues, Italo Pinto,
%E Lima, Jeanne Samara dos Santos,
%E Rodrigues, Aline Castilho,
%E Mateus, Dairo Antonio Cuellar,
%E Moreira, Herbi Júnior Pereira,
%E Barbosa, ivan Márcio,
%E Tenório, Plínio Ivo Gama,
%E Toledo, Rafael Cardoso,
%E Pereira, Yuri Matheus Dias,
%B Workshop em Engenharia e Tecnologia Espaciais, 9 (WETE)
%C São José dos Campos
%8 15-16 ago. 2018
%I Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
%J São José dos Campos
%S Anais
%1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
%K Transistor 2N2222A, Dose Ionizante Total Acumulada, Ambiente Espacial, Componente de Satélite.
%X Uma dificuldade para sistemas espaciais é a radiação, provocando efeitos de curto e longo prazo em sistemas e componentes eletrônicos. O presente artigo apresenta os resultados de testes referentes a Dose Ionizante Total Acumulada em um componente crítico de uso espacial. Os resultados dos testes são analisados e comparados com os limites aceitos de acordo com datasheet do fabricante do componente, avaliando como se comportaria no ambiente espacial.
%9 Engenharia e Gerenciamento de Sistemas Espaciais
%@language pt
%3 22 - [Artigo] Bruno Carneiro Junqueira.pdf