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FLAUSINO, J. C. M.; MANEA, S.; MOREIRA, J. Q. Proposta de uma metodologia para considerar os efeitos da radiação no cálculo das taxas de falha de componentes eletrônicos. São José dos Campos: INPE, 2021. On-line. IBI: <8JMKD3MGPDW34R/45RF35B>. Disponível em: <http://urlib.net/ibi/8JMKD3MGPDW34R/45RF35B>. Acesso em: 19 abr. 2024.