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ABRAMOF, P. G.; BELOTO, A. F.; MENGUI, Ú. A.; UETA, A. Y.; FERREIRA, N. G. High-resolution x-ray diffraction and grazing incidence x-ray reflectivity analyses of nanostructured porous silicon. In: ENCONTRO DA SOCIEDADE BRASILEIRA DE PESQUISA EM MATERIAIS (SBPMAT), , Foz do Iguaçu, PR. Resumos... 2004. Disponível em: <http://urlib.net/ibi/8JMKD3MGP3W34P/3JAR9M8>.
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... como proposto por Abramof et al. (2004).
... pode ser encontrada na literatura (ABRAMOF et al., 2004).