@InProceedings{SantosBern:2016:MeBRAm,
               author = "Santos, Luiz Guilherme Oliveira and Berni, Luiz Angelo",
          affiliation = "{Universidade Federal de S{\~a}o Paulo (UNIFESP)} and {Instituto 
                         Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)}",
                title = "Medidas de BRDF em amostras de alum{\'{\i}}nio anodizado preto",
                 year = "2016",
         organization = "Semin{\'a}rio de Inicia{\c{c}}{\~a}o Cient{\'{\i}}fica e 
                         Inicia{\c{c}}{\~a}o em Desenvolvimento Tecnol{\'o}gico e 
                         Inova{\c{c}}{\~a}o (SICINPE)",
            publisher = "Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais",
              address = "S{\~a}o Jos{\'e} dos Campos, SP",
                 note = "{Bolsa PIBIC/INPE/CNPq}",
             abstract = "O objetivo do projeto {\'e} a obten{\c{c}}{\~a}o de perfis de 
                         reflet{\^a}ncia de amostras de alum{\'{\i}}nio anodizado preto 
                         com diferentes acabamentos. Esses perfis de reflet{\^a}ncia 
                         s{\~a}o definidos pela fun{\c{c}}{\~a}o Bidirectional 
                         Reflectance Distribution Function (BRDF) e foram obtidos de 
                         amostras com 50 mm de di{\^a}metro. Tamb{\'e}m foram medidas a 
                         reflet{\^a}ncia total em um espectrofot{\^o}metro utilizando 
                         amostras de 24mm de di{\^a}metro. As amostras foram preparadas 
                         previamente, usando lixas de diferentes granulometrias para que 
                         apresentassem diferentes rugosidades. As medidas de BRDF das 
                         amostras, foram realizadas para tr{\^e}s {\^a}ngulos de 
                         incid{\^e}ncia da fonte de luz e dois comprimentos de onda. As 
                         medidas de reflet{\^a}ncia hemisf{\'e}rica foram obtidas para um 
                         {\'u}nico {\^a}ngulo de incid{\^e}ncia e na faixa de 
                         comprimento de onda de 300 a 850nm. Para efeito de 
                         compara{\c{c}}{\~a}o, tamb{\'e}m foram realizadas medidas com 
                         outros materiais como, grafite e tintas. Atualmente, os dados 
                         est{\~a}o sendo preparados para serem utilizados no programa de 
                         simula{\c{c}}{\~a}o ZEMAX.",
  conference-location = "S{\~a}o Jos{\'e} dos Campos, SP",
      conference-year = "25-26 jul.",
             language = "pt",
                  ibi = "8JMKD3MGP3W34P/3N5J6TB",
                  url = "http://urlib.net/ibi/8JMKD3MGP3W34P/3N5J6TB",
           targetfile = "Santos_medidas.pdf",
        urlaccessdate = "09 maio 2024"
}