@InProceedings{SantosBern:2017:MeBRAm,
author = "Santos, Luiz Guilherme Oliveira and Berni, Luiz Angelo",
affiliation = "{Universidade Federal de S{\~a}o Paulo (UNIFESP)} and {Instituto
Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)}",
title = "Medidas de BRDF em amostras de alum{\'{\i}}nio anodizado preto",
year = "2017",
organization = "Semin{\'a}rio de Inicia{\c{c}}{\~a}o Cient{\'{\i}}fica e
Inicia{\c{c}}{\~a}o em Desenvolvimento Tecnol{\'o}gico e
Inova{\c{c}}{\~a}o (SICINPE)",
note = "{Bolsa PIBIC/INPE/CNPq}",
abstract = "O objetivo deste projeto foi a obten{\c{c}}{\~a}o de perfis de
reflet{\^a}ncia de amostras de alum{\'{\i}}nio anodizado preto
que s{\~a}o muito utilizados em sistemas {\'o}pticos. Esses
perfis s{\~a}o definidos pela fun{\c{c}}{\~a}o Bidirectional
Reflectance Distribution Function (BRDF) que utiliza
par{\^a}metros de entrada como: comprimento de onda, {\^a}ngulos
z{\^e}nite e azimutal da luz incidente e refletida. A partir da
integra{\c{c}}{\~a}o dos dados da BRDF {\'e} poss{\'{\i}}vel
calcular a reflet{\^a}ncia total da superf{\'{\i}}cie (TIS -
Total Integrated Scattering). O sistema passou por algumas
altera{\c{c}}{\~o}es permitindo medidas tendo como
refer{\^e}ncia a normal a superf{\'{\i}}cie ou o raio
especular. Com os dados obtidos foram realizadas
simula{\c{c}}{\~o}es no ZEMAX, o que mostrou grande
compatibilidade com as medidas. Al{\'e}m das amostras de
alum{\'{\i}}nio anodizado, tamb{\'e}m foram medidas perfis de
reflet{\^a}ncia de amostras com acabamentos diferentes: tinta
preta comum, tinta para sat{\'e}lite e grafite.",
conference-location = "S{\~a}o Jos{\'e} dos Campos, SP",
conference-year = "25-26 jul.",
language = "pt",
targetfile = "Santos_medidas.pdf",
urlaccessdate = "09 maio 2024"
}