@InProceedings{BrandãoMatoAbra:2020:TeNãDe,
author = "Brand{\~a}o, Fabr{\'{\i}}cio Ribeiro and Matos, Priscila
Cust{\'o}dio and Abrah{\~a}o, Dhiego Marques Menezes",
affiliation = "{Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)} and {Instituto
Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)} and {Instituto Nacional de
Pesquisas Espaciais (INPE)}",
title = "Testes n{\~a}o destrutivos para upscreening de transistor com
qualifica{\c{c}}{\~a}o militar e fora do przo de relifing",
year = "2020",
organization = "Simp{\'o}sio de Aplica{\c{c}}{\~o}es Operacionais em {\'A}reas
de Defesa",
abstract = "Este trabalho tem como objetivo apresentar a
verifica{\c{c}}{\~a}o da possibilidade de uso espacial de um
lote de 50 transistores JANTX2N2905A com qualifica{\c{c}}{\~a}o
militar que n{\~a}o foi utilizado dentro do prazo para a sua
montagem em placa eletr{\^o}nica. Para isso, em concord{\^a}ncia
com normas espaciais estabelecidas, foi desenvolvida uma
metodologia com a combina{\c{c}}{\~a}o entre os testes do
procedimento de relifing, que verificam a confiabilidade de
componentes eletr{\^o}nicos estocados por um longo
per{\'{\i}}odo, e os testes para a t{\'e}cnica de upscreening,
utilizada para verificar a possibilidade da aplica{\c{c}}{\~a}o
espacial de componentes eletr{\^o}nicos que n{\~a}o s{\~a}o
formalmente qualificados para esta finalidade. Com isso, foram
obtidos resultados satisfat{\'o}rios perante os testes n{\~a}o
destrutivos realizados.",
conference-year = "29 a 30 set.",
label = "self-archiving-INPE-MCTIC-GOV-BR",
language = "pt",
targetfile = "brandao_testes.pdf",
urlaccessdate = "29 mar. 2024"
}