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GONÇALVES, V. F. M.; ANJOS, E. G. R.; MORGADO, G. F. M.; BRAZIL, T. R.; BALDAN, M. R.; SOUZA, M. A. M.; NOHARA, E. L.; REZENDE, M. C. Morphological, electrical, and electromagnetic characterization of nanometric films of Cu and Ni and their combination in bilayers. Thin Solid Films, v. 788, p. e140171, 2024. DOI: <10.1016/j.tsf.2023.140171>. Disponível em: <http://doi.org/10.1016/j.tsf.2023.140171>.
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... como proposto por Gonçalves et al. (2024).
... pode ser encontrada na literatura (GONÇALVES et al., 2024).