@MastersThesis{Porto:2014:AnCoMa,
author = "Porto, Roberta de C{\'a}ssia Ferreira",
title = "An{\'a}lise e compara{\c{c}}{\~a}o dos manuais da
fam{\'{\i}}lia MIL-HDBK-217F e proposta de melhoria de processos
de confiabilidade de equipamentos eletr{\^o}nicos espaciais",
school = "Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)",
year = "2014",
address = "S{\~a}o Jos{\'e} dos Campos",
month = "2014-11-10",
keywords = "confiablilidade, taxa de falhas, MIL-HDBK-217F, reliability,
failure rate, MIL-HDBK-217F.",
abstract = "Sistemas como sat{\'e}lites, avi{\~o}es, autom{\'o}veis e
controles de tr{\'a}fego a{\'e}reo est{\~a}o se tornando cada
vez mais complexos e/ou altamente integrados. Eles integram
v{\'a}rias tecnologias e trabalham em ambientes muito exigentes,
muitas vezes com pouca ou nenhuma manuten{\c{c}}{\~a}o, devido
{\`a}s condi{\c{c}}{\~o}es severas de opera{\c{c}}{\~a}o.
Para sobreviver a essas condi{\c{c}}{\~o}es severas de trabalho,
que exigem altos n{\'{\i}}veis de confiabilidade a serem
atingidos por uma diversidade de abordagens e processos, {\'e}
necess{\'a}rio que os processos de an{\'a}lises e tomadas de
decis{\~o}es sejam melhorados progressivamente, utilizando-se as
experi{\^e}ncias acumuladas em v{\'a}rias abordagens e
comunidades tecnol{\'o}gicas para propor poss{\'{\i}}veis
modifica{\c{c}}{\~o}es nos processos locais. Essas
experi{\^e}ncias se refletem na proposi{\c{c}}{\~a}o e
aperfei{\c{c}}oamento das v{\'a}rias S{\'e}ries de Manuais de
Confiabilidade por v{\'a}rias abordagens e comunidades
tecnol{\'o}gicas. O objetivo deste trabalho {\'e} a an{\'a}lise
e compara{\c{c}}{\~a}o dos manuais de confiabilidade
MIL-HDBK-217, vers{\~o}es F, F NOTICE 1 e F NOTICE 2, visando a
melhoria de processos de confiabilidade de equipamentos
eletr{\^o}nicos espaciais. Para isto, este trabalho: 1) faz o
levantamento de informa{\c{c}}{\~o}es do manual MIL-HDBK-217,
suas ferramentas, metodologias adotadas e, sobretudo, as
diferen{\c{c}}as entre essas {\'u}ltimas vers{\~o}es que
s{\~a}o analisadas; 2) apresenta uma an{\'a}lise parcial das
mudan{\c{c}}as atrav{\'e}s de estudos de casos com componentes
eletr{\^o}nicos, como capacitores, resistores e conectores, com o
objetivo de mostrar os impactos das mudan{\c{c}}as entre as
vers{\~o}es e algumas de suas limita{\c{c}}{\~o}es; 3)
incorpora tamb{\'e}m uma aplica{\c{c}}{\~a}o e an{\'a}lise do
manual para semicondutores como, por exemplo, diodos e
transistores; 4) sugere recomenda{\c{c}}{\~o}es sobre o uso das
vers{\~o}es analisadas do manual MIL-HDBK-217 nos programas de
sat{\'e}lites brasileiros e sugere medidas para melhorias de
estimativas de confiabilidade de equipamentos eletr{\^o}nicos
espaciais; 5) apresenta tamb{\'e}m uma an{\'a}lise sucinta do
manual MIL-HDBK-217\$Plus^{TM}\$, uma breve
compara{\c{c}}{\~a}o entre esse manual e o manual MIL-HDBK-217,
e informa{\c{c}}{\~o}es sobre o atual esfor{\c{c}}o de
atualiza{\c{c}}{\~a}o do manual MIL-HDBK-217 para formar a
futura vers{\~a}o G. ABSTRACT: Systems such as satellites,
airplanes, cars and air traffic controls are becoming more and
more complex and/or highly integrated. These systems integrate
several technologies inside themselves, and must be able to work
in very demanding environments, sometimes with few, or none,
maintenance services, because of their severe conditions of work.
To survive to the severe work conditions, the systems must present
high levels of reliability, which are achieved through different
approaches and processes. Therefore, it is necessary that the
processes of decision analysis and making be progressively
improved, taking into account experiences collected before by
several tecnological comunities, and then propose efficient
modifications in the local processes. These experiences influence
the proposition and improvement of several Reliability Standards
Series taken by different approaches and technological comunities.
The aim of this work is to analyze and compare the Reliability
Handbook MIL-HDBK-217, versions F, F NOTICE 1 and F NOTICE 2, to
improve the reliability processes of space electronic equipment.
To do that, This work: 1) collects information about the Standard
MIL-HDBK-217, its tools, methodologies and, most important, the
diferences among its last three versions; presents a partial
analysis of the changes through the study of cases with electronic
devices such as capacitors, resistors and conectores, to show the
impact of the changes among the Standard versions and their
limitations; 3) also incorporates an analysis and application of
the Standard to semiconductors, such as diodes and transistors; 4)
Suggests recomendations for the use of the Standard MIL-HDBK-217
versions analyzed in the brazilian satellites programs and also
suggests measures for improvements of reliability estimates of
space electronic circuits; 5) also presents a brief analysis of
the 217\$Plus^{TM}\$ Standard, a comparsion between this
Standard and the MIL-HDBK-217, and information about the current
effort to update the MIL-HDBK-217 to build the future G version.",
committee = "Brito, Al{\'{\i}}rio Cavalcanti de (presidente) and Souza,
Marcelo Lopes de Oliveira e (orientador) and Bogossian,
Ot{\'a}vio Luiz and Oliveira, Fernando Jos{\'e} de",
copyholder = "SID/SCD",
englishtitle = "Analysis and comparison of the family MIL-HDBK-217F and a proposal
for improvement of reliability processes forspace electronic
equipment",
language = "pt",
pages = "437",
ibi = "8JMKD3MGP3W/3HF47K5",
url = "http://urlib.net/ibi/8JMKD3MGP3W/3HF47K5",
targetfile = "publicacao.pdf",
urlaccessdate = "21 maio 2024"
}