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Data e hora local de busca: 20/04/2024 01:04.

1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemarte3.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/yKEq5
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2003/07.14.15.55
Última Atualização2013:05.14.18.00.45 (UTC) marciana
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2003/07.14.15.55.12
Última Atualização dos Metadados2018:06.06.03.57.13 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-10371-PRE/5872
DOI10.1063/1.1523145
ISSN0021-8979
Chave de CitaçãoAhujaASPOAAVAPJ:2002:ElOpPr
TítuloElectronic and optical properties of lead iodide
Ano2002
MêsDec.
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho337 KiB
2. Contextualização
Autor 1 Ahuja, R.
 2 Arwin, H.
 3 Silva, A. F. da
 4 Persson, C.
 5 Osorio-Guillen, J. M.
 6 Almeida, J. S.
 7 Araujo, C. M.
 8 Veje E
 9 Veissid, Nelson
10 An, C. Y.
11 Pepe, I
12 Johansson, B.
Grupo 1
 2
 3
 4
 5
 6
 7
 8
 9 LAS-INPE-MCT-BR
10 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação 1 Condensed Matter Theory Group, Department of Physics, Uppsala University
 2 Department of Physics and Measurement Technology, Linköping University, Linköping, Sweden
 3 Instituto de Fisica, Universidade Federal da Bahia
 4 Condensed Matter Theory Group, Department of Physics, Uppsala University
 5 Condensed Matter Theory Group, Department of Physics, Uppsala University
 6 Condensed Matter Theory Group, Department of Physics, Uppsala University
 7 Condensed Matter Theory Group, Department of Physics, Uppsala University
 8 Department of Electronic Power Engineering, Technical University of Denmark
 9 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
10 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
11 Instituto de Fisica, Universidade Federal da Bahia, Campus Universitario de Ondina
12 Condensed Matter Theory Group, Department of Physics, Uppsala University, Uppsala, Sweden
Endereço de e-Mail do Autor 1
 2
 3
 4
 5
 6
 7
 8
 9 veissid@las.inpe.br
10 chen@las.inpe.br
RevistaJournal of Applied Physics
Volume92
Número12
Páginas7219-7224
Histórico (UTC)2013-03-18 06:07:41 :: administrator -> marciana :: 2002
2013-05-14 18:00:46 :: marciana -> administrator :: 2002
2018-06-06 03:57:13 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
Palavras-Chavebrillouin-zone
special points
energies
systems
ResumoThe electronic properties and the optical absorption of lead iodide (PbI2) have been investigated experimentally by means of optical absorption and spectroscopic ellipsometry, and theoretically by a full-potential linear muffin-tin-orbital method. PbI2 has been recognized as a very promising detector material with a large technological applicability. Its band-gap energy as a function of temperature has also been measured by optical absorption. The temperature dependence has been fitted by two different relations, and a discussion of these fittings is given.
ÁreaFISMAT
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4. Condições de acesso e uso
URL dos dadoshttp://urlib.net/ibi/6qtX3pFwXQZsFDuKxG/yKEq5
URL dos dados zipadoshttp://urlib.net/zip/6qtX3pFwXQZsFDuKxG/yKEq5
Idiomaen
Arquivo AlvoJApplPhys_92_7219.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
marciana
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentoallowpublisher allowfinaldraft
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/bibdigital/2013/09.24.19.30 1
URL (dados não confiáveis)http://dx.doi.org/10.1063/1.1523145
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; COMPENDEX.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2001/04.03.15.36
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup readpermission resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
atualizar 

1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemarte3.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZ3r59YCT/H3LzJ
Repositóriosid.inpe.br/iris@1905/2005/08.04.03.24.01   (acesso restrito)
Última Atualização2006:07.25.14.01.54 (UTC) jefferson
Repositório de Metadadossid.inpe.br/iris@1905/2005/08.04.03.24.12
Última Atualização dos Metadados2018:06.06.03.55.46 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-13905-PRE/9086
ISSN0129-1831
Rótulo10550
Chave de CitaçãoRoblesPeroKask:2002:DyDiSe
TítuloDynamics of a dislocation set in motion by an external stress
ProjetoMATCON: Física da matéria condensada
Ano2002
Data Secundária20020612
MêsJan.
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho225 KiB
2. Contextualização
Autor1 Robles, M.
2 Perondi, Leonel Fernando
3 Kaski, K.
Identificador de Curriculo1
2 8JMKD3MGP5W/3C9JHLM
Grupo1
2 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1
2 Instituto Nacional Pesquisas Espaciais, Geofisica Espacial (INPE)
3 Laboratory of Computational Engineering Helsinki, University of Technology
RevistaInternational Journal of Modern Physics C
Volume13
Número1
Páginas97-105
Histórico (UTC)2005-08-04 03:24:13 :: administrator -> jefferson ::
2006-07-25 14:01:54 :: jefferson -> administrator ::
2008-06-09 16:54:10 :: administrator -> jefferson ::
2010-02-03 14:55:18 :: jefferson -> administrator ::
2014-08-19 01:23:57 :: administrator -> jefferson :: 2002
2014-08-20 13:03:53 :: jefferson -> administrator :: 2002
2018-06-06 03:55:46 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
Palavras-ChaveFISICA E TECNOLOGIA DE MATERIAIS
PLASTICITY
CRYSTALS
Molecular dynamics
dislocation
Lennard-Jones potential
ResumoThe relation between dislocation velocity and resolved shear stress is studied computationally at the atomic scale using Molecular Dynamics simulations in a two-dimensional Lennard-Jones system. Mimicking a well known experimental technique, we apply a calibrated stress pulse to a system with a single dislocation and follow with a run-time graphics tool and displacement-field based tracking method, the dislocation motion caused by momentum transfer from an externally generated stress pulse. The empirically suggested power law relation between dislocation velocity and resolved shear stress seems to hold also in the atomic scale.
ÁreaFISMAT
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4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvorobles-dynamics.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
jefferson
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher allowfinaldraft
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2001/04.03.15.36
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
atualizar 

1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemarte3.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZ3r59YCT/H3LjS
Repositóriosid.inpe.br/iris@1905/2005/08.04.03.10.54   (acesso restrito)
Última Atualização2006:01.26.15.48.00 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/iris@1905/2005/08.04.03.11
Última Atualização dos Metadados2018:06.06.03.55.45 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-13389-PRE/8604
ISSN0257-8972
Rótulo10529
Chave de CitaçãoBelotoUASSKRSP:2002:SpCoPo
TítuloSponge-like and columnar porous silicon implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation (PIII)
Ano2002
Data Secundária20020612
MêsJuly
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho411 KiB
2. Contextualização
Autor1 Beloto, Antonio Fernando
2 Ueda, Mario
3 Abramof, Eduardo
4 Senna, José Roberto
5 Silva, M. D.
6 Kuranaga, C.
7 Reuther, H.
8 Silva, A. F.
9 Pepe, I.
Grupo1 LAS-INPE-MCT-BR
2 LAP-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
RevistaSurface and Coatings Technology
Volume156
Número1-3
Páginas267-271
Histórico (UTC)2005-08-04 03:11:07 :: administrator -> jefferson ::
2006-01-26 15:48:32 :: jefferson -> administrator ::
2018-06-06 03:55:45 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveFISICA E TECNOLOGIA DE MATERIAIS
silicon
plasma immersion ion implantation (PIII)
reflectance
solar-cells
emitter
Resumoponge-like and columnar porous silicon (PS)were prepared from p- and n-type (100)monocrystalline silicon wafers using different anodization conditions (hydrofluoric acid concentration, current density and anodization time)and then implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation (PIII). The effect of the implantation and of the compounds formed was analyzed by measuring the reflectance of the implanted samples for wavelengths between 220 and 800 nm. A reduction in reflectance in the ultraviolet (UV)region of the spectrum was observed for polished Si samples and for all kinds of PS samples. Increased UV-induced photoluminescence in these samples caused by the increase in absorption in the UV region is expected.
ÁreaFISMAT
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4. Condições de acesso e uso
Arquivo Alvobeloto.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
jefferson
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft24
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
8JMKD3MGPCW/3ET2RFS
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2001/04.03.15.36
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn language lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup resumeid rightsholder schedulinginformation secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
atualizar 

1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/EAi37
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/12.27.09.49   (acesso restrito)
Última Atualização2005:07.01.03.00.00 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/12.27.09.49.33
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.21.19 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-11836-PRE/7183
ISSN0370-1972
Chave de CitaçãoVieiraNonoCruz:2002:NaThFi
TítuloNanohardness of a Ti thin film and its interface deposited by an electron beam on a 304 SS substrate
ProjetoTECAMB: Tecnologia ambiental
Ano2002
MêsJuly
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho146 KiB
2. Contextualização
Autor1 Vieira, Rogerio de Almeida
2 Nono, Maria do Carmo de Andrade
3 Cruz, N. C.
Identificador de Curriculo1
2 8JMKD3MGP5W/3C9JHRC
Grupo1 LAS-INPE-MCT-BR
2 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pequisas Espaciais, Laboratorio Associado de Sensores e Materiais, (INPE. LAS)
2 Instituto Nacional de Pequisas Espaciais, Laboratorio Associado de Sensores e Materiais, (INPE. LAS)
3 Universidade Estadual Paulista, Faculdade de Engenharia de Guaratinguetá, Departamento de Física e Química (UNESP.FEG)
RevistaPhysica Status Solidi B: Basic Research
Volume232
Número1
Páginas116-120
Histórico (UTC)2005-07-01 11:34:37 :: sergio -> administrator ::
2007-04-04 21:00:28 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:52 :: sergio -> marciana ::
2008-03-14 13:07:49 :: marciana -> administrator ::
2008-06-10 22:28:49 :: administrator -> banon ::
2010-05-17 18:38:14 :: banon -> administrator ::
2018-06-05 01:21:19 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveSENSORS AND MATERIALS
Thin films
Electron beam
SENSORES E MATERIAIS
Filmes
Elétrons
ResumoThe results of nanohardness measurements at a film surface and film-substrate interface are presented and discussed. An electron beam device was used to deposit a Ti film on a 304 stainless steel(304 SS)substrate. The diluted interface was obtained by thermal activated atomic diffusion. The. Ti film and Ti film-304 SS interface were analyzed by energy dispersive spectrometry and were observed using atomic force microscopy. The nanohardness of the Ti film-304 SS system was measured by a nanoindentation technique. The results showed the Ti film-304 SS interface had a higher hardness value than the Ti film and 304 SS substrate. The Ti film surface had a lower hardness due to the presence of a TiO2 thin layer.
ÁreaFISMAT
ArranjoNanohardness of a...
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4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvonanohardness.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
banon
marciana
sergio
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
atualizar 

1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/EAhGn
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/12.27.09.36   (acesso restrito)
Última Atualização2014:06.26.17.45.12 (UTC) marciana
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/12.27.09.36.58
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.21.19 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-11837-PRE/7184
ISSN0370-1972
Chave de CitaçãoBelotoSiSeKuLeUe:2002:ReMeAn
TítuloReflectance measurements of annealed porous silicon implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation
Ano2002
MêsJuly
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo de Trabalhojournal article
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho137 KiB
2. Contextualização
Autor1 Beloto, Antonio Fernando
2 Silva, Marcos Dias da
3 Senna, José Roberto
4 Kuranaga, Carlos
5 Leite, Nelia Ferreira
6 Ueda, Mario
Grupo1 LAS-INPE-MCT-BR
2 LAS-INPE-MCT-BR
3 LAS-INPE-MCT-BR
4
5
6 LAP-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
5 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
6 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
Endereço de e-Mail do Autor1 beloto@las.inpe.br
2 marcos@las.inpe.br
3 jrsenna@las.inpe.br
4
5 nelia.leite@inpe.br
6 ueda@plasma.inpe.br
RevistaPhysica Status Solidi B: Basic Research
Volume232
Número1
Páginas111-115
Histórico (UTC)2004-12-27 11:37:00 :: sergio -> administrator ::
2007-04-04 21:00:29 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:52 :: sergio -> administrator ::
2008-06-10 22:28:48 :: administrator -> banon ::
2010-05-17 18:38:13 :: banon -> administrator ::
2013-09-25 21:57:16 :: administrator -> marciana :: 2002
2014-06-26 17:45:12 :: marciana -> administrator :: 2002
2018-06-05 01:21:19 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
Palavras-Chavesolar cells
emitter
ResumoPorous silicon (PS) samples, approximately 1 mum thick, were obtained from p- and n-type (100)monocrystalline silicon wafers using different anodization conditions and were implanted with nitrogen by plasma immersion ion implantation (PIII). For comparison, polished silicon samples were implanted as well as the PS samples. The effects of implantation and of the compounds formed (SiO2 and Si3N4)on the reflectance were analyzed. Reflectance measurements of the implanted samples were carried out before and after PIII, and after annealing (1000 degreesC, 30 min in N-2)and etching in an 8 percent (w/w)HF solution for 8 min. After implantation, a reduction of the reflectance in the ultraviolet (UV)region of the spectrum was observed for the polished silicon samples. All the PS samples had strong photoluminescence (PL)before and after PIII and small changes were observed in the reflectance. After annealing, the PS samples showed an increase of the reflectance in the UV region and no PL.
ÁreaFISMAT
Arranjo 1urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAS > Reflectance measurements of...
Arranjo 2urlib.net > BDMCI > Fonds > Produção anterior à 2021 > LABAP > Reflectance measurements of...
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Conteúdo da Pasta agreementnão têm arquivos
4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvo111_ftp.pdf
Grupo de Usuáriosadministrator
banon
marciana
sergio
Grupo de Leitoresadministrator
marciana
Visibilidadeshown
Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft
Permissão de Leituradeny from all and allow from 150.163
Permissão de Atualizaçãonão transferida
5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
8JMKD3MGPCW/3ET2RFS
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel doi e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype url
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
atualizar 

1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/DjLTk
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/08.31.10.08
Última Atualização2004:08.31.03.00.00 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/08.31.10.08.02
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.21.01 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-11248-PRE/6693
ISBN/ISSN0031-9007
ISSN0031-9007
Chave de CitaçãoCaiAlGrAlYiXi:2002:SuDiAn
TítuloSurface diffusion anomaly near a substrate phase transition: H on W(100)
Ano2002
MêsJune
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho193 KiB
2. Contextualização
Autor1 Cai, L
2 Altman, M. S.
3 Granato, Enzo
4 Ala-Nissila, T.
5 Ying, S. C.
6 Xiao, X. D.
Identificador de Curriculo1
2
3 8JMKD3MGP5W/3C9JH2J
Grupo1 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Xiao XD (reprint author), Hong Kong Univ Sci & Technol, Dept Phys, Hong Kong, Hong Kong Peoples R China
2 Hong Kong Univ Sci & Technol, Dept Phys, Hong Kong, Hong Kong Peoples R China
3 Inst Nacl Pesquisas Espaciais, Sao Jose Dos Campos, BR-12201 Brazil
4 Brown Univ, Dept Phys, Providence, RI 02912 USA
5 Helsinki Univ Technol, Helsinki Inst Phys, Espoo, FIN-02015 Finland
6 Helsinki Univ Technol, Phys Lab, Espoo, FIN-02015 Finland
RevistaPhysical Review Letters
Volume88
Número22
PáginasArt. No. 226105
Histórico (UTC)2006-09-28 22:26:00 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:24 :: sergio -> administrator ::
2018-06-05 01:21:01 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveLOW-TEMPERATURE PHASE
W(001) SURFACE
DIFFRACTION
DYNAMICS
RECONSTRUCTION
CHEMISORPTION
ResumoUsing a linear optical diffraction method, we have experimentally studied the long predicted diffusion anomalous behavior for H/W(100) near the reconstructive phase transition of the W(100) substrate. This anomaly manifests itself in the form of a strong dip in the diffusion coefficient D at the transition temperature T-C . We interpret the strong reduction of D as a result of the diverging friction damping near the transition. The finite dip in D instead of a vanishing D at T-C also demonstrates the importance of the non-Markovian (memory) deviation from the simple instantaneous damping picture
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sergio
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Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
Lista de Itens Citandosid.inpe.br/mtc-m21/2012/07.13.14.45.25 1
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; COMPENDEX.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/CADrv
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/06.28.10.10
Última Atualização2013:05.14.17.30.34 (UTC) marciana
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/06.28.10.10.24
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.20.55 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-10767-PRE/6225
DOI10.1063/1.1431431
ISBN/ISSN0021-8979
ISSN0021-8979
Chave de CitaçãoFerreiraAbrLeiCorTra:2002:AnReSt
TítuloAnalysis of residual stress in diamond films by x-ray diffraction and micro-Raman spectroscopy
Ano2002
MêsFeb.
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho607 KiB
2. Contextualização
Autor1 Ferreira, Neidenei Gomes
2 Abramof, Eduardo
3 Leite, Nelia Ferreira
4 Corat, Evaldo Jose
5 Trava-Airoldi, Vladimir Jesus
Grupo1 LAS-INPE-MCT-BR
2
3
4 LAS-INPE-MCT-BR
5 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
2 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
5 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)
Endereço de e-Mail do Autor1 neidenei@las.inpe.br
2 eduardo.abramof@inpe.br
3 nelia.leite@inpe.br
4 corat@las.inpe.br
5 vladimir@las.inpe.br
RevistaJournal of Applied Physics
Volume91
Número4
Páginas2466
Histórico (UTC)2006-09-28 22:25:57 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:22 :: sergio -> administrator ::
2013-03-31 13:35:11 :: administrator -> marciana :: 2002
2013-05-14 17:30:35 :: marciana -> administrator :: 2002
2018-06-05 01:20:55 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Tipo de Versãopublisher
Palavras-Chavechemical-vapor-deposition
thin-films
crystalline quality
intrinsic stress
cvd
strain
plasma
ResumoWe investigate the residual stress in diamond films grown on ~001! silicon substrates as a function of film thickness. The diamond films were deposited at 1070 K by the conventional hot filament technique using a gas mixture of methane ~1.0% vol! and hydrogen ~99.0% vol!. The film thickness, obtained from cross section scanning electron micrographs, varied from 3.0 to 42 mm as the growth time increased from 1 to 10 h. These images evidenced that the columnar growth is already established for films thicker than 10 mm. Top view micrographs revealed predominantly faceted pyramidal grains for the films at all growth stages. The grain size, obtained from these images, was found to vary linearly with film thickness. Using a high resolution x-ray diffractometer, the residual stress was determined by measuring, for each sample, the ~331! diamond Bragg diffraction peak for C values ranging from 260° to 160°, and applying the sin2 c method. For the micro-Raman spectroscopy, we used the summation method, which consists in recording and adding a large number of spectra in different places of a selected area of the sample. All Raman spectra were fitted with Lorentzian lines to separate the contribution of the pure diamond and the other nondiamond graphite! phases. This spectral analysis performed in each sample allowed the determination of the residual stress, from the diamond Raman peak shifts, and also the diamond purity, which increases from 70% to 90% as the thickness goes from 3 to 42 mm. The type and magnitude of the residual stress obtained from x-ray and micro-Raman measurements agreed well for films thicker than 10 mm. For films thinner than this value, an opposite behavior between both results was observed. We attributed this discrepancy to the domain size characteristic of each technique.
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5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
URL (dados não confiáveis)http://dx.doi.org/10.1063/1.1431431
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES; COMPENDEX.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel e-mailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress project readpermission resumeid rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Cz6vo
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/06.25.15.54   (acesso restrito)
Última Atualização2005:05.04.03.00.00 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/06.25.15.54.50
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.20.55 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-12343-PRE/7649
ISBN/ISSN0021-8898
ISSN0021-8898
Chave de CitaçãoMorelhaoAvanQuivAbra:2002:TwInPr
TítuloTwo-dimensional intensity profiles of effective satellites
ProjetoTECMAT: Tecnologia de materiais / Difração de raio-x de alta resolução
Ano2002
MêsFeb.
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho748 KiB
2. Contextualização
Autor1 Morelhao, S. L.
2 Avanci, L. H.
3 Quivy, A. A.
4 Abramof, Eduardo
Identificador de Curriculo1
2
3
4 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH
Grupo1
2
3
4 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
2 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
3 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS)
RevistaJournal of Applied Crystallography
Volume35
Páginas69-74
Histórico (UTC)2005-05-04 12:42:35 :: sergio -> administrator ::
2007-04-03 21:42:46 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:21 :: sergio -> marciana ::
2008-02-20 17:41:26 :: marciana -> administrator ::
2018-06-05 01:20:55 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveMATERIALS PHYSICS
Two-dimensional intensity
Satellites
X-ray
Diffraction
Relfection
FÍSICA DE MATERIAIS
Intensidade bidimensional
Satélites
Raio-x
Difração
Reflecção
ResumoThe observation of a new X-ray scattering process with synchrotron radiation is reported. The phenomenon is analogous to three-beam diffraction in a single crystal; however, the features in the azimuthal scans are provided by superlattice-satellite reflections instead of bulk reflections. These features were named effective satellites and they are observed over the ordinary satellite reflections as a function of the azimuthal angle. Their occurrences have been monitored in completely different superlattices by mapping the incidence and azimuthal angles of the incident X-ray beam. Effects of structural parameters of the superlattices on the effective satellites as well as the information that can be extracted by measuring their positions are discussed.
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4. Condições de acesso e uso
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Arquivo Alvotwo-dimensional.pdf
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5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoWEBSCI
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes number orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Cz57w
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/06.25.14.47   (acesso restrito)
Última Atualização2008:02.20.17.36.46 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/06.25.14.47.18
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.20.55 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-10766-PRE/6224
ISBN/ISSN0925-8388
ISSN0925-8388
Chave de CitaçãoMorelhaoBritAbra:2002:ChErOx
TítuloCharacterization of erbium oxide sol-gel films and devices by grazing incidence X-ray reflectivity
ProjetoTECMAT: Tecnologia de materiais / Difração de raio-x de alta resolução
Ano2002
Mêsoct.
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho377 KiB
2. Contextualização
Autor1 Morelhao, S. L.
2 Brito, G. E. S.
3 Abramof, Eduardo
Identificador de Curriculo1
2
3 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH
Grupo1
2
3 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
2 Universidade de São Paulo, Instituto de Física (USP)
3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS)
RevistaJournal of Alloys and Compounds
Volume344
Número1-2
Páginas207-211
Histórico (UTC)2007-04-03 21:42:19 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:21 :: sergio -> marciana ::
2008-02-20 17:36:46 :: marciana -> administrator ::
2018-06-05 01:20:55 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveMATERIALS PHYSICS
Sol-gel films
X-ray reflectivity
Data fitting
Genetic algorithm
X-ray waveguide
Borosilicate glasses
Wave guides
Coatings
Resolution
FÍSICA DE MATERIAIS
Filmes sol gel
Refletividade de raio-x
Montagem de dados
Algorítmos genéticos
Raio-x
Revestimentos
Resolução
ResumoRecently, a significant amount of studies have been carried out on sol-gel films for optical applications, mostly motivated by the quickness and low cost of the film preparation process. Overcoating films of different density and thickness can produce waveguides for visible light as well as for X-rays. In order to preserve the coherence properties of the guided light, improvements in the current quality of the films are necessary as well as an appropriated technique for structural characterization and quality control. X-ray specular reflectivity can be such a technique, but it is limited by the complexity of the internal nanostrutucture of the films. In this work, we have developed a procedure to fit the specular reflectivity and extract the exact density profile of sol-gel films. It is applied to analyze a single compound film produced from a sol-gel of Er2O3 nanoparticles. It correlates the density variations and roughness with the steps of the preparation process. Moreover, we have also characterized an X-ray waveguide of Er2O3/TiO2/Er2O3 and theoretically optimized its structure to demonstrate the effects of density floating and roughness on the waveguidance efficiency.
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4. Condições de acesso e uso
Idiomaen
Arquivo Alvocharacterization.pdf
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Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft24
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5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoWEBSCI; PORTALCAPES.
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
Campos Vaziosalternatejournal archivist callnumber copyright creatorhistory descriptionlevel documentstage doi e-mailaddress electronicmailaddress format isbn label lineage mark mirrorrepository nextedition notes orcid parameterlist parentrepositories previousedition previouslowerunit progress readergroup rightsholder schedulinginformation secondarydate secondarymark session shorttitle sponsor subject tertiarymark tertiarytype typeofwork url versiontype
7. Controle da descrição
e-Mail (login)marciana
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1. Identificação
Tipo de ReferênciaArtigo em Revista Científica (Journal Article)
Sitemtc-m16.sid.inpe.br
Código do Detentorisadg {BR SPINPE} ibi 8JMKD3MGPCW/3DT298S
Identificador6qtX3pFwXQZsFDuKxG/Cz4Fb
Repositóriosid.inpe.br/marciana/2004/06.25.14.29   (acesso restrito)
Última Atualização2008:03.28.19.32.33 (UTC) administrator
Repositório de Metadadossid.inpe.br/marciana/2004/06.25.14.29.12
Última Atualização dos Metadados2018:06.05.01.20.55 (UTC) administrator
Chave SecundáriaINPE-10765-PRE/6223
ISBN/ISSN0021-3640
ISSN0021-3640
Chave de CitaçãoZasavitskiiBushAndrAbra:2002:EnSpQu
TítuloEnergy spectrum of quantum wells in PbTe/PbEuTe-based structures from photoluminescence data
ProjetoMATCON: Física a matéria condensada
Ano2002
Data de Acesso20 abr. 2024
Tipo SecundárioPRE PI
Número de Arquivos1
Tamanho55 KiB
2. Contextualização
Autor1 Zasavitskii, II
2 Bushuev, EV
3 Andrada e Silva, Erasmo Assunpção de
4 Abramof, Eduardo
Identificador de Curriculo1
2
3
4 8JMKD3MGP5W/3C9JGUH
Grupo1
2
3 LAS-INPE-MCT-BR
4 LAS-INPE-MCT-BR
Afiliação1 Lebedev Physical Institute, Russian Academy of Sciences
2 Lebedev Physical Institute, Russian Academy of Sciences
3 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS)
4 Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais, Laboratório Associado de Sensores e Materiais (INPE.LAS)
RevistaJetp Letters
Volume75
Número11
Páginas559-562
Histórico (UTC)2006-09-28 22:25:55 :: administrator -> sergio ::
2008-01-07 12:53:21 :: sergio -> marciana ::
2008-03-28 19:32:33 :: marciana -> administrator ::
2018-06-05 01:20:55 :: administrator -> marciana :: 2002
3. Conteúdo e estrutura
É a matriz ou uma cópia?é a matriz
Estágio do Conteúdoconcluido
Transferível1
Tipo do ConteúdoExternal Contribution
Palavras-ChaveSENSORS AND MATERIALS
Photoluminescence
Quantum wells
SENSORES E MATERIAIS
Fotoluminescência
ResumoIt is shown that the energies of radiative transitions between the ground states of electrons and holes for high-quality deep PbTe quantum wells at low temperatures are described well within the framework of the two-band model with regard to the nonparabolicity, strong anisotropy, and multivalley character of the band structure and also uniaxial deformation, that is present in the heterostructure. For a two-dimensional system, the temperature coefficient of the variation of the forbidden band gap decreases with decreasing well width, which is explained by a weakening of the electron-phonon interaction. (C) 2002 MAIK "Nauka/Interperiodica".
ÁreaFISMAT
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4. Condições de acesso e uso
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Arquivo Alvoenergy spectrum.pdf
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Detentor da CópiaSID/SCD
Política de Arquivamentodenypublisher denyfinaldraft12
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5. Fontes relacionadas
Unidades Imediatamente Superiores8JMKD3MGPCW/3ESR3H2
DivulgaçãoWEBSCI
Acervo Hospedeirosid.inpe.br/banon/2003/08.15.17.40
6. Notas
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7. Controle da descrição
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